XXRD是（X-ray Diffraction）射線衍射儀的簡(jiǎn)稱。其基本原理是當(dāng)X射線照耀所測(cè)物質(zhì)（晶體），相應(yīng)晶面會(huì)發(fā)生衍射強(qiáng)度。隨著發(fā)射X射線的轉(zhuǎn)軸移動(dòng)，不同視點(diǎn)的不同晶面會(huì)被徹底掃描出來(lái)。然后依據(jù)布拉格方程2d sinθ=nλ，呈現(xiàn)出圖譜。

  一、小角X射線衍射SAXD和廣角X射線衍射WAXD簡(jiǎn)介：
  廣角X射線衍射：X射線衍射需求在廣角范圍內(nèi)測(cè)定，因而又被稱為廣角X射線衍射(Wide-Angle X-raydiffraction英文簡(jiǎn)稱WAXD) 。
  小角X射線衍射：X射線衍射需求在小角范圍內(nèi)測(cè)定，因而又被稱為小角X射線衍射(Small Angle X-ray Diffraction英文簡(jiǎn)稱SAXD) 。
  以上總稱X射線衍射（X-ray Diffraction，簡(jiǎn)稱XRD）

  二、小角X射線散射SAXS和廣角 X 射線散射WAXS簡(jiǎn)介
  假如被照耀試樣具有不同電子密度的非周期性結(jié)構(gòu)，則次生X射線不會(huì)發(fā)生干涉現(xiàn)象，該現(xiàn)象被稱為漫射X射線衍射（簡(jiǎn)稱散射）。
  （1）SAXS（小角 X 射線散射）
  小角X射線散射：X射線散射需求測(cè)定，因而又被稱為小角X射線散射(Small-Angle X-ray Scattering, 英文簡(jiǎn)稱SAXS) 。
  SAXS 是剖析各種樣品類型（液體、粉末、固體、凝膠...）的納米級(jí)結(jié)構(gòu)和尺度的最通用東西之一。 樣品能夠是無(wú)定形、結(jié)晶或半結(jié)晶。 經(jīng)過(guò) SAXS 研討的典型樣品包含膠體分散體、表面活性劑、聚合物、生物大分子、膜、納米復(fù)合資料、納米粉末和多孔資料。 經(jīng)過(guò)丈量二維 SAXS 譜圖能夠研討各向異性納米級(jí)結(jié)構(gòu)的取向。
  （2）WAXS（廣角 X 射線散射）
  基于在更高視點(diǎn)處丈量的散射譜圖，能夠識(shí)別和量化給定樣品中存在的晶相和預(yù)算納米微晶的尺度。各向異性結(jié)構(gòu)中晶格的取向，例如在聚合物中，能夠經(jīng)過(guò)2D WAXS 譜圖來(lái)揣度。

  三、小角x射線散射和廣角衍射的差異：
  廣角XRD一般指3°~80°，乃至是更高的度數(shù)，一般用來(lái)判斷某種資料的物相，便是什么物質(zhì)。
  SAXS掃描視點(diǎn)一般為0.2-2度。測(cè)結(jié)晶度用（廣角WAXD）就行。測(cè)長(zhǎng)周期或結(jié)晶厚度用小角x射線散射SAXS。
  注意區(qū)分一個(gè)是衍射，一個(gè)是散射。
  小分子晶體主要用WAXD研討，高分子資料SAXS比較重要。
  小角衍射：小角是指5度以內(nèi)。小角衍射范圍能夠設(shè)置在1-90度。
  廣角衍射：5-90度。
  小角衍射需求小角配件才干進(jìn)行。
  例如分子篩的特征是10度以內(nèi)有特征峰，假如用小角衍射，能夠設(shè)置掃描1-10度。

  四、相關(guān)常見(jiàn)問(wèn)題
  ①小角xrd表征什么，大角xrd又表征什么，各有什么特點(diǎn)？
  發(fā)生的X射線中,包含與靶中各種元素對(duì)應(yīng)的具有特定波長(zhǎng)的X射線，稱為特征（檢測(cè)方法:用XRD檢測(cè)儀檢測(cè)表征差異：跟規(guī)范圖譜比照，依據(jù)波峰的差異能夠得到。
  ②小角X射線衍射和小角X射線散射有什么差異？
  X射線與樣品的效果發(fā)生散射，要看射線與格子 之間的相互效果是否相干，相干的就發(fā)生衍射，不相干就不能發(fā)生衍射、就只能是散射。小角X射線衍射和小角X射線散射不是一個(gè)概念！
  小角X射線衍射縮寫(xiě)是SAXD，小角X射線散射的縮寫(xiě)是SAXS，二者的原理仍是有很大的差異。衍射對(duì)應(yīng)的是周期性結(jié)構(gòu)如晶格與X射線相互效果引起的相干衍射現(xiàn)象，而散射對(duì)應(yīng)的是X射線電子在透射樣品前后電子密度的變化。

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