專為IC半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)設(shè)計(jì)
適用于各種類型IC半導(dǎo)體芯片
檢測的X-RAY檢測設(shè)備

在線DR/CT檢測滿足不同需求
壓縮感知迭代算法提升檢測速度
最大檢測樣品尺寸600x1200mm
實(shí)現(xiàn)超高速的特定區(qū)域的3D掃描
與CT重建(小于2s)

碳納米管CT球管X射線源
高精度高亮度的特性微焦點(diǎn)
X光管 最優(yōu)焦點(diǎn)達(dá)2μm
系統(tǒng)能夠快速獲取樣品
內(nèi)部的三維結(jié)構(gòu)信息
