專為IC半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)設(shè)計(jì)
適用于不同類型的IC半導(dǎo)體檢測(cè)
Mini LED 芯片檢測(cè) IGBT元件
缺陷檢測(cè)

采用自主研發(fā)的碳納米管X光管
高光子效率碳納米管
一體化X射線源
支持多角度2.5D檢測(cè) 可升級(jí)為3D
可提供定制化軟件功能

一鍵獲取高分辨率的圖像
最優(yōu)分辨率可達(dá)到2.5μm
輕松勝任各種物體尺寸
和缺陷檢測(cè) 廣泛應(yīng)用于
新產(chǎn)品研發(fā)及質(zhì)量抽檢、失效分析
